+8619925197546

בדיקה קפיצית בעלת דיוק גבוה

Jun 19, 2023

בדיקות בדיקה קפיציות בעלות דיוק גבוה הן מרכיב חיוני בתחום האלקטרוניקה והייצור, שכן הן מסייעות בבדיקה, מדידה ובדיקת הביצועים החשמליים של מעגלים אלקטרוניים שונים. בדיקות בדיקה התפתחו מאוד במהלך השנים, והיצרנים מתכננים ומייצרים בדיקות המציעות דיוק ודיוק גבוהים יותר.
Plated Gold Pogo Pin Probe
בדיקה אחת כזו היא בדיקה קפיצית בעלת דיוק גבוה. הוא תוכנן במיוחד כדי להציע דיוק יוצא דופן, חזרתיות ואמינות. בדיקות אלו אידיאליות לשימוש במגוון רחב של יישומים כגון בדיקות בתוך המעגל, בדיקות פונקציונליות, בדיקות ICT ובדיקות סריקת גבולות.
Pin Probe
ישנם שלושה מרכיבים עיקריים בבדיקה קפיצית: גוף הבדיקה, הבוכנה והקפיץ. הקפיץ הוא מרכיב קריטי מכיוון שהוא מספק את הכוח הדרוש לבוכנה ליצור מגע עם המכשיר הנבדק (DUT). גוף הבדיקה עשוי בדרך כלל מחומר בעל מוליכות גבוהה כגון פליז, בעוד שהבוכנה עשויה מחומר עמיד כגון טונגסטן קרביד.
Semiconductor chip testing pogo pin
אחת התכונות הקריטיות של בדיקה קפיצית בעלת דיוק גבוה היא התנגדות המגע שלה. התנגדות המגע של בדיקה היא ההתנגדות בין קצה הבדיקה לגוף כאשר הוא יוצר מגע עם ה-DUT. לבדיקות דיוק גבוה יש התנגדות מגע נמוכה יותר, מה שמאפשר דיוק רב יותר במדידות.
Semiconductor chip testing tower
מאפיין חשוב נוסף של בדיקות אלו הוא תנועת הבוכנה שלהם. מהלך הבוכנה הוא המרחק שהבוכנה יכולה לנוע בתוך גוף הבדיקה. מהלך הבוכנה קשור ישירות לכוח הקפיץ ומהווה גורם קריטי להבטחת מגע מדויק ועקבי בין הבדיקה ל-DUT.
test pogo pin
בנוסף לדיוק ודיוק, בדיקות קפיציות בעלות דיוק גבוה נועדו גם להיות עמידים ועמידים לאורך זמן. הם עשויים מחומרים איכותיים שיכולים לעמוד בקשיחות של שימוש חוזר ובדיקות חוזרות. הם גם מתוכננים להחלפה בקלות, מה שהופך אותם לאפשרות נוחה ומעשית עבור יישומי בדיקה וייצור.
pogo pin Probe
לסיכום, בדיקות קפיציות בעלות דיוק גבוה הן מרכיב חיוני בתחום האלקטרוניקה והייצור. הם מציעים דיוק, חזרה ואמינות יוצאי דופן, מה שהופך אותם לאידיאליים לשימוש במגוון רחב של יישומים. עם הבנייה העמידה והחלקים הניתנים להחלפה, הם מהווים אופציה חסכונית עבור כל מתקן הדורש ציוד בדיקה אמין ומדויק.

שלח החקירה